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控创标准上架式工控机Passau Ⅱ-gongkong《行业快讯》2012年第42期(总第61期)

控创标准上架式工控机Passau Ⅱ-gongkong《行业快讯》2012年第42期(总第61期): Passau Ⅱ是控创中国自主研发Passau系列的高品质2U,19英寸标准上架式工控机的第二代产品，其性能及应用较之前的版本都有较大提高。整机内部由主板、专用多功能扩展卡和电源组成，架构简洁可靠，易于维护。

2012/12/18
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FDT技术概述: 一、FDT选择的基础技术COM、ActiveX和XML，它们是什么、在FDT中扮演的角色以及如何使用。通过几个典型操作来演示在FDT中这些技术是如何工作的。二、我们为什么需要FDT 2技术；FDT 2需要满足的需求有哪些；FDT 2为什么选择微软的.NET技术；FDT 2的整体架构；FDT 2对FDT 1.x的兼容；FDT 2在性能、安全、开发支持等方面做出的改进。

2012/12/17
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FDT 2.0简介: 一、FDT选择的基础技术COM、ActiveX和XML，它们是什么、在FDT中扮演的角色以及如何使用。通过几个典型操作来演示在FDT中这些技术是如何工作的。二、我们为什么需要FDT 2技术；FDT 2需要满足的需求有哪些；FDT 2为什么选择微软的.NET技术；FDT 2的整体架构；FDT 2对FDT 1.x的兼容；FDT 2在性能、安全、开发支持等方面做出的改进。

2012/12/17
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NIdays2012全球图形化系统设计盛会在北京隆重召开: 第十五届NIdays于2012年11月16日在北京隆重举办，吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于推动测试测量领域的自动化技术水平和创新技术应用，在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。主题演讲是本届盛会的重头戏，来自NI东亚地区副总裁Ajit Gokhale先生、NI大中华区总经理陈大庞领导出席会议并发表讲话。Ajit先生阐述NI在测试测量仪器创新的足迹及面对未来新技术和新应用的挑战，表明 NI将会一直延续摩尔定律在测试测量的长期发展。其次， NI的五位技术工程师分别介绍了NI今年推出的Labview2012、用于高性能嵌入式测量与数据记录应用的CompactDAQ独立式机箱及图形化设计在自动化测试应用、图形化系统设计在嵌入式监测与控制应用等新产品新技术。值得重点关注是，NI中国资深技术市场工程师汤敏现场揭秘了NI全球首款矢量信号收发仪的发布， NI射频和微波测试经理Erik Johnson先生与大家分享了首款矢量信号收发仪测试的故事。通过新产品和新技术的发布，直指“仪器变革进行时”的会议主题。

2012/12/16
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图形化系统设计在射频领域的应用: 第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办，吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用，在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。

2012/12/14
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图形化系统级设计---图形化平台在自动化测试领域的应用: 第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办，吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用，在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。

2012/12/14
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图形化系统设计在嵌入式监控方面的应用: 第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办，吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用，在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。

2012/12/14
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图形化系统级设计---基于数据采集平台的创新: 第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办，吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用，在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。

2012/12/14
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面向二十一世纪的系统设计: 第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办，吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用，在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。

2012/12/14
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图形化系统级设计---基于平台的方法用于测量与控制: 第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办，吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用，在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。

2012/12/14
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