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多通道数据采集与分析系统的构建要诀: 在构建多通道数据采集与分析系统时，需要考虑很多因素和挑战：比如根据测试对象的不同，如何选择不同平台的数采设备；怎样确保单个通道数据的采样性能；如何保证多通道、多系统间数据的有效同步；如何保证海量数据的传输，存储以及后期挖掘等等。本讲座将结合实际应用以及NI公司最新的数据采集技术与产品，帮您梳理构建大型多通道数据采集系统的要素，应对大型项目挑战。更多信息 NI主页：http://china.ni.com NI数据采集视频平台：http://china.ni.com/demo/daq

2012/12/19
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台达C200变频器的介绍与应用: 产业机械一直是台达变频器产品应用的强势领域，特别像输送、木工、纺织及食品包装等行业。为了加强在此类行业内的竞争力和产品性价比，特推出一款新产品：C200系列。此款产品结构紧实，性能优越，外观精巧，适用于中低功率段，是讲究性能的最佳解决方案。本次演讲，向大家展示C200变频器的市场定位，产品特点，以及目前市场上成功的应用案例，从而使大家能够深刻了解此款产品。

2012/12/19
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gongkong《行业快讯》2012年第43期(总第62期): 研华瘦客户端宽屏平板电脑凌华科技高图像处理性能模块计算机基恩士高速&高性能一体化PLC 艾默生网络800W特大功率前端电源施耐德电气ATV1200高压变频器施耐德电气2012年OEM大客户高峰论坛和利时高性能双路SSI编码器接口模块研祥PIS系统应用主机TRW-8371P Moxa MXview2.2工业级网管软件

2012/12/19
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罗克韦尔CompactLogix 5370系列PLC-gongkong《行业快讯》2012年第42期(总第61期)

罗克韦尔CompactLogix 5370系列PLC-gongkong《行业快讯》2012年第42期(总第61期): 面向OEM厂商为主要客户的中型系统市场，罗克韦尔自动化希望能够将集成架构应用从高端延伸到中端，并且延续Logix平台的技术特性，全新推出了“Midrange System 中型系统”，旨在帮助OEM厂商缩短产品上市时间，提高机器性能，提升品牌竞争力。

2012/12/18
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控创标准上架式工控机Passau Ⅱ-gongkong《行业快讯》2012年第42期(总第61期)

控创标准上架式工控机Passau Ⅱ-gongkong《行业快讯》2012年第42期(总第61期): Passau Ⅱ是控创中国自主研发Passau系列的高品质2U,19英寸标准上架式工控机的第二代产品，其性能及应用较之前的版本都有较大提高。整机内部由主板、专用多功能扩展卡和电源组成，架构简洁可靠，易于维护。

2012/12/18
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NIdays2012全球图形化系统设计盛会在北京隆重召开: 第十五届NIdays于2012年11月16日在北京隆重举办，吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于推动测试测量领域的自动化技术水平和创新技术应用，在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。主题演讲是本届盛会的重头戏，来自NI东亚地区副总裁Ajit Gokhale先生、NI大中华区总经理陈大庞领导出席会议并发表讲话。Ajit先生阐述NI在测试测量仪器创新的足迹及面对未来新技术和新应用的挑战，表明 NI将会一直延续摩尔定律在测试测量的长期发展。其次， NI的五位技术工程师分别介绍了NI今年推出的Labview2012、用于高性能嵌入式测量与数据记录应用的CompactDAQ独立式机箱及图形化设计在自动化测试应用、图形化系统设计在嵌入式监测与控制应用等新产品新技术。值得重点关注是，NI中国资深技术市场工程师汤敏现场揭秘了NI全球首款矢量信号收发仪的发布， NI射频和微波测试经理Erik Johnson先生与大家分享了首款矢量信号收发仪测试的故事。通过新产品和新技术的发布，直指“仪器变革进行时”的会议主题。

2012/12/16
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图形化系统设计在射频领域的应用: 第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办，吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用，在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。

2012/12/14
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图形化系统级设计---图形化平台在自动化测试领域的应用: 第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办，吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用，在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。

2012/12/14
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图形化系统设计在嵌入式监控方面的应用: 第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办，吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用，在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。

2012/12/14
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图形化系统级设计---基于数据采集平台的创新: 第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办，吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用，在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。

2012/12/14
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