许多在暖通空调领域工作的人都知道相对湿度 (RH) 是用于暖通空调控制的一个参数。然而，相对湿度并不总是最理想的控制参数选择。有时还有其他选择可以使环境条件更稳定或系统调试更容易。在本次在线研讨会中，您将了解湿度测量及其对暖通空调系统控制的影响。

演讲人

周洪蓉

维萨拉工业测量部产品应用经理

会议议程

1. 湿度理论基础

2. 影响暖通空调控制中最有效湿度参数的因素：相对湿度、露点、焓值、湿球温度

3. 结论：应该使用哪些参数

4. 维萨拉湿度测量产品介绍

公司简介

维萨拉提供测量仪器和智能化应用，我们是应对气候变化的积极探索者和行动者。我们提供可靠的测量设备和数据，助力客户提高资源利用效率，并推动能源转型，同时也致力于保障大众的安全以及提升社会福祉，让世界变得更美好。我们拥有近 90 年创新和专业知识的深厚积淀，更拥有一支超过 2,300 名专业人员组成的精英团队，我们尽心竭力保护地球家园。维萨拉 A 股股票在纳斯达克赫尔辛基证券交易所上市。

在线总可溶固形物（TDS）测量技术与工艺控制系统相结合，可用于提高粗浆洗涤 (BSW) 工艺效率。减少能源、原材料、化学品和水的消耗量以及提高可再生能源的利用率在纸浆厂的战略计划中发挥着重要作用。

BSW 效率的提高和稀黑液蒸发产量的提高，直接为工厂带来了成本节约。化学品漂白和废水处理成本显著减少，同时纸浆质量和白度有所提高。更好的洗涤固形物控制甚至可以消除工艺中的一些瓶颈并提高漂白和回收效率。

使用维萨拉Polaris SAFE-DRIVE 在线折光仪 PR-23-SD 可在线测量总固溶物（TDS）。它通过时间和清洗性能计算并分析浓度（总和参数），同时能够快速响应工艺过程中的潜在变化或干扰。也可以校准折光仪的输出单位为 COD。

会议议程

• 应用简介介绍

• 了解在粗浆洗涤过程中测量和优化总可溶物浓度的价值

• 减少原材料、化学品和水的使用量，同时提高可再生能源效率

• 认识到将黑液 TDS 保持在特定范围内的必要性，从而确保安全性和整体工厂生产率

不受泡沫影响，齐平安装的设计更易于清洗，且可承受CIP和SIP过程。

新颖的彩色灯环让操作人员更好地监测生产状态。

VEGA测量技术如何保障啤酒厂生产安全？

一起走进VEGA  CERTEC®陶瓷测量元件的生产车间

电力变压器是变电站中昂贵的资产之一，占总投资的 60%。在从发电到配电的过程中，为确保整个电网中实现可靠的电力供应，电力变压器至关重要。变压器故障会导致发电能力的严重损失，更换关键资产通常既费时又费钱。重大变压器故障可能会导致更高的成本，因为停工停产损失巨大，并且可能损坏相邻的资产或设备，这可能会造成数百万美元的收入损失。  几十年来，人们一直利用溶解气体分析 (DGA) 评估变压器的状况。它可以在正常运行期间同时探测和识别多个内部故障。传统的 DGA 方法是在实验室中对定期收集的油样进行气相色谱分析。这种方法的缺点在于难以识别趋势和模式，因此业内逐渐趋向于采用实时气体监测。  会议议程 •案例背景  •项目概述以及发现的问题  •故障诊断和分析  •结论和经验总结

会议简介

1、电池内阻测试仪基础知识介绍

2、电池内阻测试仪校准规范介绍

3、电池内阻测试仪现行校准方法解析

4、使用锁相电流源如何提高校准能力

施冉

福禄克计量校准部高级工程师

国家一级注册计量师

>>如何使用锁相电流源提高电池内阻测试仪校准能力

>>主要内容-电池内阻测试仪基础知识介绍

>>锂电池行业

>>电池内阻

>>电池内阻测试的重要性

>>电池内阻测试仪

>>电池内阻测试仪用途

>>主要内容-电池内阻测试仪校准规范介绍

>>电池内阻测试仪校准规范

>>电池内阻测试仪校准规范（范围、引用文件）

>>电池内阻测试仪校准规范（术语和计量单位、环境条件）

>>电池内阻测试仪校准规范（测量标准及其他设备）

>>电池内阻测试仪校准规范（校准项目）

>>电池内阻测试仪校准规范（校准过程）

>>电池内阻测试仪校准规范（校准过程）

>>电池内阻测试仪校准规范（校准结果表达、复校时间间隔）

>>主要内容-电池内阻测试仪现行校准方法解析

>>福禄克电池内阻测试仪指标

>>直流电压测量功能校准-福禄克解决方案

>>新一代多产品校准器直流电压功能指标

>>当前常见电池内阻测量功能校准方法

>>电池内阻测试仪电池内阻测量功能校准（证书）

>>当前所用AC/DC标准电阻

>>当前所用AC/DC标准电阻

>>当前电池内阻测量功能校准方法存在的问题

>>主要内容-如何使用锁相电流源提高电池内阻校准能力

>>电池内阻测量功能福禄克专利校准方法

>>电池内阻测量功能福禄克专利校准方法

>>电池内阻测量功能福禄克专利校准方法

>>本方法使用要点

>>高精度锁相电流源5730A

>>锁相

>>标准数字多用表8588A

>>精密分流器A40B

>>福禄克专利方法演示视频

>>福禄克专利方法不确定度来源

>>高精度锁相电流源5730A，锁相相位指标

>>高精度锁相电流源5730A输出ACI指标

>>标准数字多用表ACI测量指标

>>精密分流器A40B阻值年稳定度

>>精密分流器A40B相移指标

>>福禄克专利方法不确定度来源，优势

>>为什么不能用55XXA？

半导体晶圆和微电子制造是一个要求很高、几乎不容出错的工艺过程。半导体制造过程既复杂又耗时，制造周期长达 12 到 20 周。制造半导体所需的初期投资巨大，制造流程需要的设备非常昂贵。在新一轮投资周期开始之前，一个制造周期通常会持续大约六年，并且整个生产过程的利润率相对较低，这意味着只有高产量才能保证盈利。因此，避免生产废品和不良品至关重要。水是半导体制造过程中影响较大的污染物之一，一些预估表明，不合适的湿度条件造成的损失占收入损失的 25%。为避免产品质量和产量出现问题，在半导体制造过程中必须尤为谨慎地监测湿度和温度水平。湿度过高会导致冷凝等问题，而过于干燥的条件则有利于静电荷的积累，可能导致破坏性的静电放电。该行业高度依赖于高性能监测仪器，以准确测量化学品成分和环境条件。维萨拉的高精度测量解决方案适用于制造工艺流程中的关键步骤，响应非常迅速，且能够适应各种环境条件。