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福禄克 Fluke 用750校准测试压力开关: 新款 750 系列产品的操作与 743/744 非常相似，现有用户立即便能上手使用 750 系列 - 无需培训就能掌握新款产品极大增强的性能。此类现场工具可校准温度、压力、电压、电流、电阻和频率，其工作模式有三种：测量、提供信号源或同时测量和提供信号源 - 技术人员用一件工具便能同时完成仪表的故障排查、校准或维护。 750 系列具有容易理解的菜单驱动型显示画面，可指导用户逐步完成任务。通过可编程的校准程序，技术人员能够创建和运行自动化校准前/校准后程序，从而确保快速、一致地进行校准。之后，可通过 USB 端口将记录的结果轻松下载到 PC 中，从而省去手抄的麻烦。在原款产品基础上所做的改进包括提高了图形化显示画面的亮度，现在对于任何光线条件都能清楚地看到读数。另一项深受欢迎的改进是采用了新型可充电锂电池组，该电池组提供的电量足够一整个班次时间使用，而且它还可从校准仪内部充电。每个 750 系列校准仪都配备全新的 C799 软工具袋。这种独特的工具袋有一个透明窗口，一方面能隔离校准仪和被测元件，另一方面允许操作人员完全接触到校准仪的控件和键盘。该工具袋设计包括一个测试线输入-输出插槽、可连接压力模块的敞开式侧面口袋，以及配备充足的压力模块、手泵、测试线和交叉连接线缆。集成 HART 通信功能 Fluke754是第一款用于 HART 仪器的现场校准仪，它不仅功能强大，而且还简单易用。Fluke754可提供快速的 HART 通信功能，日常 HART 校准和维护无需使用外部装置或辅助工具。Fluke754可随着其他仪器的推出和 HART 新版本的发布轻松进行更新，而且还由作为 HART 通信基金会成员的福禄克所提供的服务和支持作为保障。

2012/7/25
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发现凌华科技PXI/PXI Express测量测试系统的强大性能: 测试系统带宽不足、采样频率太低、无法实现实时存盘！不停纠结于何种PXI和PXIe模块组合才能满足机箱的背板插槽？您还在使用效率低下音频/振动/噪声测试系统？让我们一起发现凌华科技PXI/PXI Express测量测试系统的强大性能，让您的测量测试系统完美升级。凌华科技作为亚洲最大的数据采集与PXI平台产品供货商，新近推出了一系列基于PXI/PXI Express的新品及解决方案。领先业界的系统带宽，升级的触发和同步功能，可以轻松地让您的测量测试系统迈入“高带宽”时代。同时，全混合机箱的设计理念让您的系统配置更灵活、更方便。基于最新的PXI/PXI Express测量测试平台，采用凌华科技专为音频/振动/噪声测试而设计的高分辨率动态信号采集模块，可以大幅提升测试的精度和性能。

2012/7/23
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霍尼韦尔 “可持续发展之道”美洲用户大会-gongkong《行业快讯》2012年第23期(总第41期)

霍尼韦尔 “可持续发展之道”美洲用户大会-gongkong《行业快讯》2012年第23期(总第41期): 6月27日，霍尼韦尔2012年度美洲用户大会举行。此次大会的主题为“可持续发展之道”，为期5天，主要包括以用户为导向的会议和演讲，霍尼韦尔为流程工业所研发的最新技术演示，以及针对特定行业，如：石油和天然气、冶炼、化学制品、采矿业、制浆、造纸领域的分论坛。例如：工厂现代化、控制系统升级、石油和天然气的测量和模拟等等。

2012/7/17
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海洋光学新款大功率近红外光源-gongkong《行业快讯》2012年第24期(总第42期)

海洋光学新款大功率近红外光源-gongkong《行业快讯》2012年第24期(总第42期): 近日，海洋光学新推出Vivo近红外光源，是一款用于360-2,000纳米范围的可见光-近红外光谱的袖珍钨卤光源。Vivo可以与所有的海洋光学光谱仪、光纤和取样附件相兼容，可以输出强大的反射光并得出其他测量结果。大功率光源是用于制药、粮油加工以及食品安全行业近红外分析的理想光源。

2012/7/17
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快速构建高效完整的数据采集系统: 在构建数据采集系统时应该注意考虑哪些问题？软件如何加速测试测量系统的设计？本场研讨会中，NI资深工程师结合了实际案例探讨了构建数据采集系统时必须考虑的关键因素，如传感器连接、不同的总线选择、同步需求以及实时需求的考虑等。更多信息请访问ni.com/daq/zhs/。

2012/7/4
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NI 发布全新PXI机箱-gongkong《行业快讯》2012年第20期(总第38期)

NI 发布全新PXI机箱-gongkong《行业快讯》2012年第20期(总第38期): 美国国家仪器公司近日发布NI PXIe-1066DC18槽机箱，增加了PXI Express平台高可用性，可最大限度地提高系统的正常运行时间。在众多严格任务级测试、测量和控制应用中，该新机箱的特性能够缩短PXI系统的平均故障间隔时间 (MTBF)和平均维修时间(MTTR)。全新机箱还添加了重要组件冗余和远程监控功能，着重提高现有的NI PXI仪器的正常运行时间。

2012/6/28
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管道电磁流量计跳数解决方法: 管道电磁流量计跳数解决方法-淮安市明泰仪表有限公司www.hamtyb.com提供描述：根据本公司客户反应的情况,在化工厂管道上电磁流量计出现跳数等测量不准的情况,我公司给出视频的解决方法

2012/6/25
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福禄克 Fluke 用750校准测试HART智能压力变送器的性能: 新款 750 系列产品的操作与 743/744 非常相似，现有用户立即便能上手使用 750 系列 - 无需培训就能掌握新款产品极大增强的性能。此类现场工具可校准温度、压力、电压、电流、电阻和频率，其工作模式有三种：测量、提供信号源或同时测量和提供信号源 - 技术人员用一件工具便能同时完成仪表的故障排查、校准或维护。 750 系列具有容易理解的菜单驱动型显示画面，可指导用户逐步完成任务。通过可编程的校准程序，技术人员能够创建和运行自动化校准前/校准后程序，从而确保快速、一致地进行校准。之后，可通过 USB 端口将记录的结果轻松下载到 PC 中，从而省去手抄的麻烦。在原款产品基础上所做的改进包括提高了图形化显示画面的亮度，现在对于任何光线条件都能清楚地看到读数。另一项深受欢迎的改进是采用了新型可充电锂电池组，该电池组提供的电量足够一整个班次时间使用，而且它还可从校准仪内部充电。每个 750 系列校准仪都配备全新的 C799 软工具袋。这种独特的工具袋有一个透明窗口，一方面能隔离校准仪和被测元件，另一方面允许操作人员完全接触到校准仪的控件和键盘。该工具袋设计包括一个测试线输入-输出插槽、可连接压力模块的敞开式侧面口袋，以及配备充足的压力模块、手泵、测试线和交叉连接线缆。集成 HART 通信功能 Fluke754是第一款用于 HART 仪器的现场校准仪，它不仅功能强大，而且还简单易用。Fluke754可提供快速的 HART 通信功能，日常 HART 校准和维护无需使用外部装置或辅助工具。Fluke754可随着其他仪器的推出和 HART 新版本的发布轻松进行更新，而且还由作为 HART 通信基金会成员的福禄克所提供的服务和支持作为保障。

2012/6/17
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福禄克 Fluke 向您介绍750系列文档化过程校准器: 新款 750 系列产品的操作与 743/744 非常相似，现有用户立即便能上手使用 750 系列 - 无需培训就能掌握新款产品极大增强的性能。此类现场工具可校准温度、压力、电压、电流、电阻和频率，其工作模式有三种：测量、提供信号源或同时测量和提供信号源 - 技术人员用一件工具便能同时完成仪表的故障排查、校准或维护。 750 系列具有容易理解的菜单驱动型显示画面，可指导用户逐步完成任务。通过可编程的校准程序，技术人员能够创建和运行自动化校准前/校准后程序，从而确保快速、一致地进行校准。之后，可通过 USB 端口将记录的结果轻松下载到 PC 中，从而省去手抄的麻烦。在原款产品基础上所做的改进包括提高了图形化显示画面的亮度，现在对于任何光线条件都能清楚地看到读数。另一项深受欢迎的改进是采用了新型可充电锂电池组，该电池组提供的电量足够一整个班次时间使用，而且它还可从校准仪内部充电。每个 750 系列校准仪都配备全新的 C799 软工具袋。这种独特的工具袋有一个透明窗口，一方面能隔离校准仪和被测元件，另一方面允许操作人员完全接触到校准仪的控件和键盘。该工具袋设计包括一个测试线输入-输出插槽、可连接压力模块的敞开式侧面口袋，以及配备充足的压力模块、手泵、测试线和交叉连接线缆。集成 HART 通信功能 Fluke754是第一款用于 HART 仪器的现场校准仪，它不仅功能强大，而且还简单易用。Fluke754可提供快速的 HART 通信功能，日常 HART 校准和维护无需使用外部装置或辅助工具。Fluke754可随着其他仪器的推出和 HART 新版本的发布轻松进行更新，而且还由作为 HART 通信基金会成员的福禄克所提供的服务和支持作为保障。

2012/6/15
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NI发布3U PXI Express嵌入式控制器-gongkong《行业快讯》2012年第16期(总第34期)

NI发布3U PXI Express嵌入式控制器-gongkong《行业快讯》2012年第16期(总第34期): 美国国家仪器公司（National Instruments, 简称NI）近日发布了NI PXIe-8115高性能嵌入式控制器，配备了最新的Intel®第二代 Core™ i5双核处理器，能够缩短测试时间，是多核应用程序的理想选择。 NI PXIe-8115嵌入式控制器的In-ROM和硬盘驱动诊断功能能够判定控制器的健康状况，从而提高操作性能，并最大限度地减少系统停工时间。将控制器与NI LabVIEW系统设计软件结合，工程师可在各类测试、测量和控制应用中提升开发效率。

2012/6/9
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