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MCS-51单片机的硬件结构: 第2章 MCS-51单片机的硬件结构.主讲朱兆优副教授！单片机是由运算器、控制器、存储器、输入设备以及输出设备共五个基本部分组成的。单片机是把包括运算器、控制器、少量的存储器、最基本的输入输出口电路、串行口电路、中断和定时电路等都集成在一个尺寸有限的芯片上。MCS-51单片机芯片内部逻辑结构　　通过MCS-51单片机内部的逻辑结构图掌握单片机内部的逻辑结构及各个部件的功能与特点。即：　　中央处理器（CPU）、内部数据存储器、内部程序存储器、定时器/计数器、并行I/O口、串行口、中断控制系统、时钟电路、位处理器、总线。

基本电路理论一阶电路_张峰主讲: 一阶电路：用一阶微分方程描述的电路。一．换路：指电路中开关的突然接通或断开，元件参数的变化，激励形式的改变等。换路时刻（通常取＝0），换路前一瞬间：换路后一瞬间

一阶RC电路的暂态响应－上海交通大学电子实验中心多媒体课件: 实验目的 1 学习数字式贮存示波器的使用 2 用示波器观察一阶RC电路充放电时的曲线,记录波型 3 由实验曲线求取一阶电路的时间常数. 4 了解电路参数对充放电的过程的影响. 5 了解微分电路与积分电路的功能及电路时间常数的选择方法.

MEMS继电器 ME-X动画演示: 精密复合超小型技术系统 PIMITES放大高密度贴装于IC测试仪及测量仪器电路板上的“ME-X”，并通过CG图像显示了根据衔铁跷跷板平衡结构运动而形成的信号流动情况。MEMS继电器 ME-X融合了松下电工长期以来培育的机械继电器技术与ＭＥＭＳ技术的、米粒大小的ＭＥＭＳ高频继电器具有长4.0mm、宽2.5mm、高1.3mm的超小型尺寸、100mw的低耗电量最大的特点是，通过采用电磁驱动方式，确保了高可靠性由于满足最大6GHz的高频带宽，因此可以用于ＩＣ测试仪及测量仪器 .

三相电路的电压与电流测量－上海交通大学电子实验中心多媒体课件: 一、实验目的 1.了解三相负载的星形及三角形接线方法，加深理解线电压和相电压、线电流和相电流之间的关系； 2.用实验方法研究三相四线制电路中中线的作用； 3.了解相序测定方法。三、实验任务 1.三相负载作星形联接，测量电路中各电压、电流值。按图13—5(a)接线，测定三相四线制、三相三线制对称负载与不对称负载的线电压、相电压、中点电压和线电流、中线电流，(不对称负载为A相开路、C相短路)，记录于表13-1中。 2.三相负载作三角形联接，测量电路中各电压、电流值。按图13-5(b)接线，测量负载对称和不对称情况下的线(相)电压和线(相)电流，记录于表13-2中。实验注意事项 ①三相电路实验中电流的测量可用一块电流表和多个电流插座和插头来完成，实验中要特别注意安全。 ②本实验中三相电源电压(V线＝380V)较高，必须严格遵守安全操作规程，身体不要触及带电部分，以保证安全。

三相交流电路－上海交通大学电子实验中心多媒体课件: 实验目的（1）掌握三相负载正确接入电源的方法。（2）进一步了解三相电路中电压、电流的线值和相值的关系。（3）了解中线在三相四线制电源中的作用。实验总结要求计算负载星形连接有中线时的相、线电压的数值关系。并按比例画出不对称负载有中线时各电量的相量图。中线的作用是什么？在什么情况下必须有中线，在什么情况下可不要中线？

三相电路的功率测量－上海交通大学电子实验中心多媒体课件: 实验目的 1. 学习、掌握用三瓦计法和二瓦计法测量三相电路的有功功率。 2. 了解上述两种方法在不同情况下的实用价值。实验原理三瓦计法测量功率电路二瓦计法测量功率电路注意事项 1.测量时，严禁用身体的任何部位接触带电的金属裸露部分。 2.严禁带电改接线路，改接线中时应断开电源，如电路中有电容负载，应在断开电源后，将电容放电。 3.如使用手动量程测量时，应注意量程，切勿超过量程以免损坏电表。 4.测量功率时，功率表的电流线圈与电压线圈的端应用导线短接。 5.测量电流时，先开启电源，后将电流插头插入电流插座。以免因电源短路或电容的冲击电流过大造成电表损坏。

集成运算放大器---上海交通大学电子实验中心多媒体课件: 一、实验目的： 1．通过对集成运算放大器μA741参数的测试，了解集成运算放大器组件主要参数的定义和表示方法。 2．掌握运算放大器主要参数的测试方法。二、实验原理：集成运算放大器是一种使用广泛的线性集成电路器件，和其它电子器件一样，其特性是通过性能参数来表示的。集成电路生产厂家为描述其生产的集成电路器件的特性，通过大量的测试，为各种型号的集成电路制定了性能指标。符合指标的就是合格产品，否则就是不合格产品。要能够正确使用集成电路器件，就必须了解集成电路各项参数的含义及数值范围。集成电路的性能指标可以从产品说明书或器件手册查到，因此，我们必须学会看产品说明书和查阅器件手册。由于集成电路是半导体器件，而半导体器件的性能参数常常有较大的离散性，因此，我们还必须掌握各项参数的测试方法，这样才能保证在电路中使用的器件是合格产品，满足电路设计的需要。运算放大器的性能参数可以使用专用的测试仪器进行测试（“运算放大器性能参数测试仪”），也可以根据参数的定义，采用一些简易的方法进行测试。本次实验是学习使用常规仪表，对运算放大器的一些重要参数进行简易测试的方法。