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工控网专访 ODVA 主席：论道 SPE、网络安全与 AI 时代的工业通信: 九月底在ODVA上海办公室，工控网独家专访了 ODVA 主席艾尔·贝当博士（Dr. Al Beydoun）。本次访谈深入探讨了工业通信的前沿技术，核心议题包括：单对以太网（SPE）与以太网-APL 的最新进展，CIP Security™ 如何演进以应对日益严峻的网络安全挑战，以及 EtherNet/IP™ 在赋能人工智能（AI）和智能制造中的关键作用。艾尔博士还分享了 ODVA 在中国市场的发展战略与合作情况。

2025/10/10
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对话【力纳克(中国) 工业领域销售总监曾伟光】解构核心技术底蕴，把脉产业升级新机遇

对话【力纳克(中国) 工业领域销售总监曾伟光】解构核心技术底蕴，把脉产业升级新机遇: gongkong®工博会现场访谈丨对话【力纳克(中国) 工业领域销售总监曾伟光】解构核心技术底蕴，把脉产业升级新机遇

2025/9/30
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施耐德电气睿易系列M200及M100 PLC 产品测试及客户: 施耐德电气睿易系列M200及M100 PLC 产品测试及客户访谈

2014/11/25
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施耐德电气睿易系列ATV610变频器测试及客户: 施耐德电气睿易系列ATV610变频器测试及客户访谈

2014/8/10
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施耐德电气睿易系列XA2按钮产品测试及客户: 施耐德电气睿易系列XA2按钮产品测试及客户访谈

2014/5/27
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英威腾iDAY系列VIP高峰论坛举办-gongkong《行业快讯》2013年第17期(总第82期)

英威腾iDAY系列VIP高峰论坛举办-gongkong《行业快讯》2013年第17期(总第82期): 11月8日，深圳市英威腾电气在上海举办了2013英威腾iDAY系列VIP客户高峰论坛。来自英威腾各行业的近60名VIP客户代表以及英威腾电气股份的主要领导共同参与了本次会议。　　继2012年成功举办VIP客户活动之后，本届iDAY系列VIP客户高峰论坛更加凸显专业，整个论坛由六部分的内容组成：专家论坛-伺服技术发展及应用、媒体高端访谈、英威腾研发体系介绍、英威腾产品介绍、纺织及冶金行业英威腾产品方案介绍及答谢晚宴。

2013/12/18
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FISITA 2012访安士能电器销售经理陆晓光先生: 2012年11月27日，由中国汽车工程学会主办的FISITA 2012世界汽车工程年会暨展览会在国家会议中心开幕。同时弗戈工业在线记者也在第一时间对FISITA参展商安士能电器（上海）有限公司进行了深度访谈。中安士能电器（上海）有限公司销售经理陆晓光先生首先对本次展会到场的专业的观众做出了问候，其次对他们所带来的产品及公司今后的发展进行了概括性的介绍并贴合本次FISITA 2012的主题“更绿色更安全可持续--低碳时代的汽车与交通结合其产品浅谈了自己的几点看法。

2013/1/10
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NIdays2012全球图形化系统设计盛会在北京隆重召开: 第十五届NIdays于2012年11月16日在北京隆重举办，吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于推动测试测量领域的自动化技术水平和创新技术应用，在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。主题演讲是本届盛会的重头戏，来自NI东亚地区副总裁Ajit Gokhale先生、NI大中华区总经理陈大庞领导出席会议并发表讲话。Ajit先生阐述NI在测试测量仪器创新的足迹及面对未来新技术和新应用的挑战，表明 NI将会一直延续摩尔定律在测试测量的长期发展。其次， NI的五位技术工程师分别介绍了NI今年推出的Labview2012、用于高性能嵌入式测量与数据记录应用的CompactDAQ独立式机箱及图形化设计在自动化测试应用、图形化系统设计在嵌入式监测与控制应用等新产品新技术。值得重点关注是，NI中国资深技术市场工程师汤敏现场揭秘了NI全球首款矢量信号收发仪的发布， NI射频和微波测试经理Erik Johnson先生与大家分享了首款矢量信号收发仪测试的故事。通过新产品和新技术的发布，直指“仪器变革进行时”的会议主题。

2012/12/16
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图形化系统设计在射频领域的应用: 第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办，吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用，在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。

2012/12/14
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图形化系统级设计---图形化平台在自动化测试领域的应用: 第十四届NIDays于2012年11月16日在北京隆重举办，吸引了仪器仪表行业工程师、系统集成商、业界专家学者、行业媒体等逾千人参加。NI自成立以来始终致力于在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用，在这次的技术盛会中通过主题演讲、最新产品和应用展示、面对面动手课程、专家访谈等不同形式的活动让参与者身临其境的感受着NI创新的测量测试技术给工程师带来的应用价值。

2012/12/14
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